西安光机所成功研制杂散光测试设备

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  近日,中国科学院西安光学精密机械研究所研制成功长焦距、大口径杂光系数测试设备并顺利通过验收,交付用户单位。

  长焦距、大口径杂光系数测试设备主要用途是测试大口径相机光学系统的杂光系数。设备主要由目标模拟系统、载物调整系统、目标探测系统、控制采集软件以及控制柜五部分组成。该设备在继承传统面源法(俗称黑斑法)测量杂散光的原理的基础上,进行了创新性的改进:采用大口径离轴抛物面镜与积分球组合来实现出射光为2л立体角的无穷远目标的模拟,避免了大口径透射式光学系统材料引入的杂光误差;为了保证目标模拟器中的黑斑与白斑的对比度达到1:1000的要求,将以往牛角塞结构形式改成一种新型内腔室光陷阱结构,可实现高对比度的目标模拟,最终测试目标对比度达到1:2000;另外在弱光探测器标定方面采用强光光源和两个积分球组合分级的方法,解决了大动态范围弱光探测器标定的难题,实现了3000倍动态范围线性度优于2%的弱光探测器的标定,最终设备杂散光测试重复误差优于0.3%。

  现场验收时,使用该设备测试某光学系统的杂散光,与西安光机所和用户单位原有杂光测试设备测试数据比对,取得了满意的效果。与会专家认为长焦距、大口径杂光系数测试设备所有技术指标满足《设备研制技术协议》的要求,一致同意通过验收,可以正式投入使用。
 

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